Контакты/Проезд  Доставка и Оплата Помощь/Возврат
История
  +7 707 857-29-98
  +7(7172) 65-23-70
  10:00-18:00 пн-пт
  shop@logobook.kz
   
    Поиск книг                        
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Акции | Бестселлеры | |
 

Advances in X-Ray Analysis, John B. Newkirk; Gavin R. Mallett


Варианты приобретения
Цена: 46570.00T
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ.  Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: 208 шт.  
При оформлении заказа до: 2025-07-28
Ориентировочная дата поставки: Август-начало Сентября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину
в Мои желания

Автор: John B. Newkirk; Gavin R. Mallett
Название:  Advances in X-Ray Analysis
ISBN: 9781468478372
Издательство: Springer
Классификация:
ISBN-10: 1468478370
Обложка/Формат: Paperback
Страницы: 558
Вес: 0.98 кг.
Дата издания: 12.06.2012
Язык: English
Размер: 254 x 178 x 30
Основная тема: Chemistry
Подзаголовок: Volume 10
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: The featured subject of the 1966 Denver X-Ray Conference was X-Ray Diffraction Topography and Dynamical X-Ray Phenomena. One of the chairmen of the featured ses- sions, Professor R. Young, made the following remarks at the conclusion of his session. We think they are quite appropriate to the occasion and with his permission we reproduce them here.

Advances in X-Ray Analysis

Автор: Charles S. Barrett; John B. Newkirk; Gavin R. Mall
Название: Advances in X-Ray Analysis
ISBN: 1468475371 ISBN-13(EAN): 9781468475371
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 46570.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: The University of Denver and its staff members deserve much credit for organizing and operating this Denver X-ray Conference year after year, for there seems to be no doubt that it and the yolumes that result from it are filling a need.

Advances in X-Ray Analysis

Автор: William M. Mueller
Название: Advances in X-Ray Analysis
ISBN: 1468486330 ISBN-13(EAN): 9781468486339
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 46570.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Advances in X-Ray Analysis

Автор: William M. Mueller
Название: Advances in X-Ray Analysis
ISBN: 1468474030 ISBN-13(EAN): 9781468474039
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 46570.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: It is interesting to observe the ever increasing versatility of X-ray analysis as evidenced by the wide range of application to the myriads of problems confronting the technological com- munity, a versatility limited only by the imagination and inge- nuity of the scientist, the designer of X-ray equipment, and the novice or student.

Advances in X-Ray Analysis

Автор: C. Grant
Название: Advances in X-Ray Analysis
ISBN: 1461399777 ISBN-13(EAN): 9781461399773
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 46570.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: The successful application of x-r~ diffraction techniques and x-r~ spectrometry depends in large measure on the availability of dependable standards and reference data. One of the purposes of the invited papers in this 22nd Annual Denver X-Ray Conference was tc review the status of programs to prepare such standards and reference data.

Advances in X-Ray Analysis

Автор: D. K. Smith
Название: Advances in X-Ray Analysis
ISBN: 1461399920 ISBN-13(EAN): 9781461399926
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 46570.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: Indexing by computer methods or accurate lattice parameters through least-squares fitting procedures with resulting small residuals is a good test of d value accuracy. In most of the reported studies, the emphasis has been more on the data acquisition than on the specific problems to which the data is to be applied.

Advances in X-ray Analysis

Автор: Howard McMurdie
Название: Advances in X-ray Analysis
ISBN: 1461399831 ISBN-13(EAN): 9781461399834
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 46570.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: X-ray diffraction as a method of qualitative analysis for crystal- line phases has been long accepted, and has had constant improvement in method and equipment.

Advances in X-Ray Analysis

Автор: William M. Mueller
Название: Advances in X-Ray Analysis
ISBN: 1468486365 ISBN-13(EAN): 9781468486360
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 93160.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: The Ninth Annual Conference on Applications of X-Ray Anal- ysis sponsored by the University of Denver was held August 10, 11,12, 1960, at the Park Lane Hotel in Denver, Colorado.

X-Ray and Electron Methods of Analysis

Автор: H. Van Olphen
Название: X-Ray and Electron Methods of Analysis
ISBN: 1489959157 ISBN-13(EAN): 9781489959157
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 46570.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Advances in X-Ray Analysis

Автор: Gavin R. Mallett; Marie Fay; William M. Mueller
Название: Advances in X-Ray Analysis
ISBN: 1468476351 ISBN-13(EAN): 9781468476354
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 46570.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: The papers presented in this volume of Advances in X-Ray Analysis were chosen from those presented at the Fourteenth Annual Conference on the Applications of X-Ray Analysis. These included such fields as electron-probe microanalysis, the effect of chemical combination on X-ray spectra, and the uses of soft and ultrasoft X-rays in emission analysis.

Advances in X-Ray Analysis

Автор: William M. Mueller
Название: Advances in X-Ray Analysis
ISBN: 1468476084 ISBN-13(EAN): 9781468476088
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 46570.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: The text of this volume had its origin in the Tenth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis sponsored by the University of Denver and held August 7,8,9, 1961, at the Albany Hotel in Denver, Colorado.

Advances in X-Ray Analysis

Автор: William M. Mueller; Gavin Mallet; Marie Fay
Название: Advances in X-Ray Analysis
ISBN: 1468486756 ISBN-13(EAN): 9781468486759
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 46570.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: A real need exists for ways to bridge the gap between basic research and prac- tical application, for faster utilization of new discoveries and new developments in the world of technology, and for technical transfer of defense and space accomplish- ments to the civilian economy.

Advances in X-Ray Analysis

Автор: William M. Mueller; Marie Fay
Название: Advances in X-Ray Analysis
ISBN: 146848785X ISBN-13(EAN): 9781468487855
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 46570.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: At the same time the researcher is faced with problems of in- creasing complexity, with the requirement for new knowledge and new techniques, and must frequently, with little time, bridge the gap between his own sphere of experience and a sometimes apparently unrelated new interest.


Казахстан, 010000 г. Астана, проспект Туран 43/5, НП2 (офис 2)
ТОО "Логобук" Тел:+7 707 857-29-98 ,+7(7172) 65-23-70 www.logobook.kz
Kaspi QR
   В Контакте     В Контакте Мед  Мобильная версия