Контакты/Проезд  Доставка и Оплата Помощь/Возврат
История
  +7 707 857-29-98
  +7(7172) 65-23-70
  10:00-18:00 пн-пт
  shop@logobook.kz
   
    Поиск книг                        
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Акции | Бестселлеры | |
 

Ion Beam Surface Layer Analysis, Otto Meyer


Варианты приобретения
Цена: 81050.00T
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ.  Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: 210 шт.  
При оформлении заказа до: 2025-07-28
Ориентировочная дата поставки: Август-начало Сентября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину
в Мои желания

Автор: Otto Meyer
Название:  Ion Beam Surface Layer Analysis
ISBN: 9781461588818
Издательство: Springer
Классификация:


ISBN-10: 1461588812
Обложка/Формат: Paperback
Страницы: 491
Вес: 0.88 кг.
Дата издания: 30.01.2012
Язык: English
Размер: 254 x 178 x 26
Основная тема: Physics
Подзаголовок: Volume 2
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: The major topic of that and the present conference was the material analysis with ion beams including backscattering and channeling, nuclear reactions and ion induced X-rays with emphasis on technical problems and no- vel applications.

Compendium of Surface and Interface Analysis

Автор: The Surface Science Society of Japan
Название: Compendium of Surface and Interface Analysis
ISBN: 9811061556 ISBN-13(EAN): 9789811061554
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 307450.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: This book concisely illustrates the techniques of major surface analysis and their applications to a few key examples.Surfaces play crucial roles in various interfacial processes, and their electronic/geometric structures rule the physical/chemical properties. In the last several decades, various techniques for surface analysis have been developed in conjunction with advances in optics, electronics, and quantum beams. This book provides a useful resource for a wide range of scientists and engineers from students to professionals in understanding the main points of each technique, such as principles, capabilities and requirements, at a glance. It is a contemporary encyclopedia for selecting the appropriate method depending on the reader's purpose.

The Nuclear Overhauser Effect in Structural and Conformational Analysis, 2nd Edition

Автор: David Neuhaus
Название: The Nuclear Overhauser Effect in Structural and Conformational Analysis, 2nd Edition
ISBN: 0471246751 ISBN-13(EAN): 9780471246756
Издательство: Wiley
Рейтинг:
Цена: 255500.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: The Nuclear Overhauser Effect (NOE) is an important branch of NMR spectroscopy concerned with structural and conformational problems.

Ion Beam Surface Layer Analysis

Автор: Otto Meyer
Название: Ion Beam Surface Layer Analysis
ISBN: 1461588782 ISBN-13(EAN): 9781461588788
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 46570.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: The major topic of that and the present conference was the material analysis with ion beams including backscattering and channeling, nuclear reactions and ion induced X-rays with emphasis on technical problems and no- vel applications.

Ion Spectroscopies for Surface Analysis

Автор: Alvin W. Czanderna; David M. Hercules
Название: Ion Spectroscopies for Surface Analysis
ISBN: 1461366496 ISBN-13(EAN): 9781461366492
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 46570.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: Determining the elemental composition of surfaces is an essential measurement in characterizing solid surfaces. Typically, atoms and molecules on the surface and in the near surface region may be excited by photons, electrons, ions, or neutrals, and the detected particles are emitted, ejected, or scattered ions or electrons.

Surface and Interface Analysis

Автор: Rudolf Holze
Название: Surface and Interface Analysis
ISBN: 3642056539 ISBN-13(EAN): 9783642056536
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 174130.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: This book gives a comprehensive overview and introduction to analytical techniques for electrochemistry. It provides as complete an overview as possible and enables the reader to choose methods most suitable for tackling a particular task.

Surface Analysis by Electron Spectroscopy

Автор: Graham C. Smith
Название: Surface Analysis by Electron Spectroscopy
ISBN: 1489909699 ISBN-13(EAN): 9781489909695
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 93160.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: This book is t~e fifth in aseries of scientific textbooks designed to cover advances in selected research fields from a basic and general view- point.

Ion Beams in Materials Processing and Analysis

Автор: Bernd Schmidt; Klaus Wetzig
Название: Ion Beams in Materials Processing and Analysis
ISBN: 370911733X ISBN-13(EAN): 9783709117330
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 148010.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: This book covers ion beam application in modern materials research, offering the basics of ion beam physics and technology and a detailed account of the physics of ion-solid interactions for ion implantation, ion beam synthesis, sputtering and nano-patterning.

Growth Processes and Surface Phase Equilibria in Molecular Beam Epitaxy

Автор: Nikolai N. Ledentsov
Название: Growth Processes and Surface Phase Equilibria in Molecular Beam Epitaxy
ISBN: 3540657940 ISBN-13(EAN): 9783540657941
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 135090.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: This text considers the main growth-related phenomena occurring during epitaxial growth, such as thermal etching, doping, segregation of the main elements and impurities, coexistence of several phases at the crystal surface and segregation-enhanced diffusion.

Growth Processes and Surface Phase Equilibria in Molecular Beam Epitaxy

Автор: Nikolai N. Ledentsov
Название: Growth Processes and Surface Phase Equilibria in Molecular Beam Epitaxy
ISBN: 3642085075 ISBN-13(EAN): 9783642085079
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 135090.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Mathematical Analysis of Continuum Mechanics and Industrial Applications II

Автор: Patrick van Meurs; Masato Kimura; Hirofumi Notsu
Название: Mathematical Analysis of Continuum Mechanics and Industrial Applications II
ISBN: 981106282X ISBN-13(EAN): 9789811062827
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 158380.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: As the sequel to the proceedings of the International Conference of Continuum Mechanics Focusing on Singularities (CoMFoS15), the proceedings of CoMFoS16 present further advances and new topics in mathematical theory and numerical simulations related to various aspects of continuum mechanics.

Gravity`s Ghost and Big Dog: Scientific Discovery and Social Analysis in the Twenty-First Century

Автор: Collins H. M., Collins Harry
Название: Gravity`s Ghost and Big Dog: Scientific Discovery and Social Analysis in the Twenty-First Century
ISBN: 022605229X ISBN-13(EAN): 9780226052298
Издательство: Wiley
Рейтинг:
Цена: 29570.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: Brings to life science`s efforts to detect cosmic gravitational waves. This title offers readers an unprecedented view of gravitational wave research and explains what it means for an analyst to do work of this kind.

Metal and Alloy Bonding - An Experimental Analysis

Автор: R. Saravanan; M. Prema Rani
Название: Metal and Alloy Bonding - An Experimental Analysis
ISBN: 1447161785 ISBN-13(EAN): 9781447161783
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 87060.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: This volume elucidates the structural details of materials using the X-ray diffraction technique. Analyses of the charge density and the local and average structure are given to reveal the structural properties of technologically important materials.


Казахстан, 010000 г. Астана, проспект Туран 43/5, НП2 (офис 2)
ТОО "Логобук" Тел:+7 707 857-29-98 ,+7(7172) 65-23-70 www.logobook.kz
Kaspi QR
   В Контакте     В Контакте Мед  Мобильная версия