Development of an Ultrafast Low-Energy Electron Diffraction Setup, Max Gulde
Автор: Michel A. VanHove; William Henry Weinberg; Chi-Min Название: Low-Energy Electron Diffraction ISBN: 3642827233 ISBN-13(EAN): 9783642827235 Издательство: Springer Рейтинг: Цена: 74010.00 T Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ. Описание: Surface crystallography plays the same fundamental role in surface science which bulk crystallography has played so successfully in solid-state physics and chemistry.
Автор: P.K. Larsen; P.J. Dobson Название: Reflection High-Energy Electron Diffraction and Reflection Electron Imaging of Surfaces ISBN: 1468455826 ISBN-13(EAN): 9781468455823 Издательство: Springer Рейтинг: Цена: 104480.00 T Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ. Описание: Proceedings of a NATO ARW held in Veldhoven, The Netherlands, June 15-19, 1987
Автор: Bella B. Smoliar; Victor A. Drits Название: Electron Diffraction and High-Resolution Electron Microscopy of Mineral Structures ISBN: 3642717314 ISBN-13(EAN): 9783642717314 Издательство: Springer Рейтинг: Цена: 95770.00 T Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ. Описание: By that time, I had at my disposal certain structural data on natural and synthetic minerals obtained using SAED and high-resolution electron microscopy (HREM), and this stimulated my writing this book.
Автор: Zhong-lin Wang Название: Elastic and Inelastic Scattering in Electron Diffraction and Imaging ISBN: 1489915818 ISBN-13(EAN): 9781489915818 Издательство: Springer Рейтинг: Цена: 191560.00 T Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ. Описание: For a long time, I have wished to systematically summarize various dynamic theories associated with quantitative electron micros- copy and their applications in simulations of electron diffraction patterns and images. This book assumes that readers have some preknowledge of electron microscopy, electron diffraction, and quantum mechanics.
Автор: Reuben Rudman Название: Low-Temperature X-Ray Diffraction ISBN: 1461587735 ISBN-13(EAN): 9781461587736 Издательство: Springer Рейтинг: Цена: 95770.00 T Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ. Описание: Low-temperature X-ray diffraction (LTXRD) investigations offer many challenges to the diffractionist, not all of which are technical or scientific in nature.
Казахстан, 010000 г. Астана, проспект Туран 43/5, НП2 (офис 2) ТОО "Логобук" Тел:+7 707 857-29-98 ,+7(7172) 65-23-70 www.logobook.kz