Контакты/Проезд Доставка и Оплата Помощь/Возврат

Корзина ()

Мои желания ()

Промокоды

Ваши заказы

X-Ray Diffraction, C. Suryanarayana; M. Grant Norton

$C. Suryanarayana; M. Grant Norton X-Ray Diffraction 9781489901507$

Варианты приобретения

Цена: 104480.00T
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ. Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: 188 шт.
При оформлении заказа до: 2025-07-28
Ориентировочная дата поставки: Август-начало Сентября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину

в Мои желания

Автор: C. Suryanarayana; M. Grant Norton
Название: X-Ray Diffraction
ISBN: 9781489901507
Издательство: Springer
Классификация:

Науки о земле

Технологии производства металлов / металлургия

Материаловедение

Испытания материалов

ISBN-10: 1489901507
Обложка/Формат: Soft cover
Страницы: 286
Вес: 0.44 кг.
Дата издания: 06.06.2013
Язык: English
Издание: Softcover reprint of
Иллюстрации: Biography
Размер: 234 x 156 x 15
Читательская аудитория: Professional & vocational
Основная тема: Characterization and Evaluation of Materials
Подзаголовок: A Practical Approach
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: In this, the only book available to combine both theoretical and practical aspects of x-ray diffraction, the authors emphasize a hands on approach through experiments and examples based on actual laboratory data.
Part I presents the basics of x-ray diffraction and explains its use in obtaining structural and chemical information.
In Part II, eight experimental modules enable the students to gain an appreciation for what information can be obtained by x-ray diffraction and how to interpret it.
Examples from all classes of materials -- metals, ceramics, semiconductors, and polymers -- are included. Diffraction patterns and Bragg angles are provided for students without diffractometers. 192 illustrations.

$Measurement of Residual and Applied Stress Using Neutron Diffraction$

Автор: M.T. Hutchings; Aaron D. Krawitz
Название: Measurement of Residual and Applied Stress Using Neutron Diffraction
ISBN: 9401052425 ISBN-13(EAN): 9789401052429
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 81050.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop, Oxford, U.K., 18-22 March, 1991

$Low-Temperature X-Ray Diffraction$

Автор: Reuben Rudman
Название: Low-Temperature X-Ray Diffraction
ISBN: 1461587735 ISBN-13(EAN): 9781461587736
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 95770.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: Low-temperature X-ray diffraction (LTXRD) investigations offer many challenges to the diffractionist, not all of which are technical or scientific in nature.

$X-Ray Diffraction, A Practical Approach$

Автор: Suryanarayana, C., Norton, M. Grant
Название: X-Ray Diffraction, A Practical Approach
ISBN: 030645744X ISBN-13(EAN): 9780306457449
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 139750.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: Combining both theoretical and practical aspects of x-ray diffraction, this book emphasizes a `hands on` approach through experiments and examples based on actual laboratory data. It presents the basics of x-ray diffraction and explains its use in obtaining structural and chemical information.

$The Basics of Crystallography and Diffraction$

Автор: Hammond, Christopher
Название: The Basics of Crystallography and Diffraction
ISBN: 0198738684 ISBN-13(EAN): 9780198738688
Издательство: Oxford Academ
Рейтинг:
Цена: 53850.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: Crystallography and diffraction are widely used throughout science for studying structure. The aim of this book is to show, through relevant examples and without relying on complex mathematics, that the basic ideas behind crystallography and diffraction are simple and easily comprehensible.

$Reflection High-Energy Electron Diffraction and Reflection Electron Imaging of Surfaces$

Автор: P.K. Larsen; P.J. Dobson
Название: Reflection High-Energy Electron Diffraction and Reflection Electron Imaging of Surfaces
ISBN: 1468455826 ISBN-13(EAN): 9781468455823
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 104480.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: Proceedings of a NATO ARW held in Veldhoven, The Netherlands, June 15-19, 1987


Казахстан, 010000 г. Астана, проспект Туран 43/5, НП2 (офис 2) ТОО "Логобук" Тел:+7 707 857-29-98 ,+7(7172) 65-23-70 www.logobook.kz

Kaspi QR

Заказ по телефону/email
Помощь
Возврат товара

Есть вопрос?
Российский офис

О компании
Политика конфиденциальности

В Контакте

В Контакте Мед Мобильная версия