Контакты/Проезд  Доставка и Оплата Помощь/Возврат
История
  +7 707 857-29-98
  +7(7172) 65-23-70
  10:00-18:00 пн-пт
  shop@logobook.kz
   
    Поиск книг                        
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Акции | Бестселлеры | |
 

Fundamentals of III-V Semiconductor MOSFETs, Serge Oktyabrsky; Peide Ye


Варианты приобретения
Цена: 174150.00T
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ.  Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: 196 шт.  
При оформлении заказа до: 2025-09-29
Ориентировочная дата поставки: начало Ноября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину
в Мои желания

Автор: Serge Oktyabrsky; Peide Ye
Название:  Fundamentals of III-V Semiconductor MOSFETs
ISBN: 9781441915467
Издательство: Springer
Классификация:

ISBN-10: 144191546X
Обложка/Формат: Hardcover
Страницы: 445
Вес: 0.82 кг.
Дата издания: 22.03.2010
Язык: English
Издание: 2010 ed.
Иллюстрации: 100 black & white illustrations, 30 black & white tables
Размер: 234 x 156 x 25
Читательская аудитория: Professional & vocational
Основная тема: Circuits and Systems
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: Fundamentals of III-V Semiconductor MOSFETs presents the fundamentals and current status of research of compound semiconductor metal-oxide-semiconductor field-effect transistors (MOSFETs) that are envisioned as a future replacement of silicon in digital circuits.

Fundamentals of Semiconductor Lasers

Автор: Takahiro Numai
Название: Fundamentals of Semiconductor Lasers
ISBN: 4431551476 ISBN-13(EAN): 9784431551478
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 121890.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications

Автор: Jacopo Franco; Ben Kaczer; Guido Groeseneken
Название: Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
ISBN: 9400776624 ISBN-13(EAN): 9789400776623
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 111790.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: This book explores the reliability of novel (Si)Ge channel quantum well pMOSFET technology. It proposes a physical model to understand the intrinsically superior reliability of the MOS system consisting of a Ge-based channel and a SiO2/HfO2 dielectric stack.

Analysis and Design of MOSFETs

Автор: Juin Jei Liou; Adelmo Ortiz-Conde; Francisco Garci
Название: Analysis and Design of MOSFETs
ISBN: 1461374731 ISBN-13(EAN): 9781461374732
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 148020.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: Analysis and Design of MOSFETs: Modeling, Simulation, and Parameter Extraction is the first book devoted entirely to a broad spectrum of analysis and design issues related to the semiconductor device called metal-oxide semiconductor field-effect transistor (MOSFET).

The Drift Diffusion Equation and Its Applications in MOSFET Modeling

Автор: Wilfried H?nsch
Название: The Drift Diffusion Equation and Its Applications in MOSFET Modeling
ISBN: 3709190975 ISBN-13(EAN): 9783709190975
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 95770.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: To be perfect does not mean that there is nothing to add, but rather there is nothing to take away Antoine de Saint-Exupery The drift-diffusion approximation has served for more than two decades as the cornerstone for the numerical simulation of semiconductor devices.

MOSFET Technologies for Double-Pole Four-Throw Radio-Frequency Switch

Автор: Viranjay M. Srivastava; Ghanshyam Singh
Название: MOSFET Technologies for Double-Pole Four-Throw Radio-Frequency Switch
ISBN: 3319011642 ISBN-13(EAN): 9783319011646
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 111790.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: This book provides analysis and discusses the design of various MOSFET technologies. Coverage includes comparison of Single-gate MOSFET and Double-gate MOSFET switching parameters as well as testing of MOSFETs parameters using image acquisition.


Казахстан, 010000 г. Астана, проспект Туран 43/5, НП2 (офис 2)
ТОО "Логобук" Тел:+7 707 857-29-98 ,+7(7172) 65-23-70 www.logobook.kz
Kaspi QR
   В Контакте     В Контакте Мед  Мобильная версия