Metzler Carolina, Gaillardon Pierre-Emmanuel, De Micheli Giovanni Vlsi-Soc: New Technology Enabler: 27th Ifip Wg 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, Vlsi-Soc 2019, Cusco, Peru, October 9783030532727

Варианты приобретения

Цена: 46570.00T
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ. Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: 239 шт.
При оформлении заказа до: 2025-07-28
Ориентировочная дата поставки: Август-начало Сентября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину

в Мои желания

Автор: Metzler Carolina, Gaillardon Pierre-Emmanuel, De Micheli Giovanni
Название: Vlsi-Soc: New Technology Enabler: 27th Ifip Wg 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, Vlsi-Soc 2019, Cusco, Peru, October
ISBN: 9783030532727
Издательство: Springer
Классификация:

Операционные системы

Алгоритмы и структуры данных

Компьютерные сети и коммуникации

ISBN-10: 3030532720
Обложка/Формат: Hardcover
Страницы: 345
Вес: 0.68 кг.
Дата издания: 23.07.2020
Серия: Ifip advances in information and communication technology
Язык: English
Издание: 1st ed. 2020
Иллюстрации: 129 illustrations, color; 85 illustrations, black and white; xvii, 345 p. 214 illus., 129 illus. in color.
Размер: 23.39 x 15.60 x 2.06 cm
Читательская аудитория: Professional & vocational
Подзаголовок: 27th ifip wg 10.5/ieee international conference on very large scale integration, vlsi-soc 2019, cusco, peru, october 6-9, 2019, revised and extended selected papers
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: Software-Based Self-Test for Delay Faults.- On Test Generation for Microprocessors for Extended Class of Functional Faults.- Robust FinFET Schmitt Trigger Designs for Low Power Applications.- An Improved Technique for Logic Gate Susceptibility Evaluation of Single Event Transient Faults.- Process Variability Impact on the SET Response of FinFET Multi-level Design.- Efficient Soft Error Vulnerability Analysis Using Non-Intrusive Fault Injection Techniques.- A Statistical Wafer Scale Error and Redundancy Analysis Simulator.- Hardware-enabled Secure Firmware Updates in Embedded Systems.- Reliability Enhanced Digital Low-Dropout Regulator with Improved Transient Performance.- Security Aspects of Real-time MPSoCs: The Flaws and Opportunities of Preemptive NoCs.- Offset-Compensation Systems for Multi-Gbit/s Optical Receivers.- Accelerating Inference on Binary Neural Networks with Digital RRAM Processing.- Semi- and Fully-Random Access LUTs for Smooth Functions.- A Predictive Process Design Kit for Three-Independent-Gate Field-Effect Transistors.- Exploiting Heterogeneous Mobile Architectures through a Unified Runtime Framework.

Vlsi-Soc: New Technology Enabler: 27th Ifip Wg 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, Vlsi-Soc 2019, Cusco, Peru, October, Metzler Carolina, Gaillardon Pierre-Emmanuel, De Micheli Giovanni