Shinan Qian, Mourad Idir, Daniele Cocco, Tigiao Xiao, Kazuto Yamauchi 8th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Subnanometer Accuracy Measurement for Synchrotron Optics and X-Ray Optics 9781628419221

Варианты приобретения

Цена: 60990.00T
Кол-во:
о цене
Наличие: Невозможна поставка.

в Мои желания

Автор: Shinan Qian, Mourad Idir, Daniele Cocco, Tigiao Xiao, Kazuto Yamauchi
Название: 8th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Subnanometer Accuracy Measurement for Synchrotron Optics and X-Ray Optics
ISBN: 9781628419221
Издательство: Mare Nostrum (Eurospan)
Классификация:

Прикладная оптика

ISBN-10: 1628419229
Обложка/Формат: Paperback
Страницы: 126
Вес: 0.00 кг.
Дата издания: 30.12.2016
Серия: Proceedings of spie
Язык: English
Размер: 229 x 152
Читательская аудитория: Professional and scholarly
Ключевые слова: Applied optics
Подзаголовок: Subnanometer accuracy measurement for synchrotron optics and x-ray optics
Рейтинг:
Поставляется из: Англии
Описание: Proceedings of SPIE offer access to the latest innovations in research and technology and are among the most cited references in patent literature.

8th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Subnanometer Accuracy Measurement for Synchrotron Optics and X-Ray Optics, Shinan Qian, Mourad Idir, Daniele Cocco, Tigiao Xiao, Kazuto Yamauchi