P-Functions and Boolean Matrix Factorization, A. Thayse
Автор: Stephan Eggersgl??; Rolf Drechsler Название: High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability ISBN: 1489988475 ISBN-13(EAN): 9781489988478 Издательство: Springer Рейтинг: Цена: 95770.00 T Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ. Описание: This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.
Казахстан, 010000 г. Астана, проспект Туран 43/5, НП2 (офис 2) ТОО "Логобук" Тел:+7 707 857-29-98 ,+7(7172) 65-23-70 www.logobook.kz