Vikram Iyengar; Anshuman Chandra Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip 9781402071195

Варианты приобретения

Цена: 158380.00T
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ. Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: 256 шт.
При оформлении заказа до: 2025-09-29
Ориентировочная дата поставки: начало Ноября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину

в Мои желания

Автор: Vikram Iyengar; Anshuman Chandra
Название: Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
ISBN: 9781402071195
Издательство: Springer
Классификация:

Электроника

Электронные устройства и материалы

Теория вычислительных машин и систем, кибернетика

ISBN-10: 1402071191
Обложка/Формат: Hardcover
Страницы: 232
Вес: 0.53 кг.
Дата издания: 30.06.2002
Серия: Frontiers in Electronic Testing
Язык: English
Размер: 243 x 163 x 21
Основная тема: Engineering
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: Talks about test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. This book aims to position test resource partitioning in the context of SOC test automation. It presents various techniques for the partitioning and optimization of the three major SOC test resources.

Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip, Vikram Iyengar; Anshuman Chandra