Optoelectronic Circuits in Nanometer CMOS Technology, Mohamed Atef; Horst Zimmermann

Автор: Elie Maricau; Georges Gielen
Название: Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
ISBN: 1461461626 ISBN-13(EAN): 9781461461623
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 130430.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: This book covers modeling, simulation and analysis of analog circuit aging, nanometer CMOS physical effects resulting in unreliability, transistor aging compact models for circuit simulation, methods for efficient circuit reliability simulation and more.

Автор: Massimo Alioto; Elio Consoli; Gaetano Palumbo
Название: Flip-Flop Design in Nanometer CMOS
ISBN: 3319019961 ISBN-13(EAN): 9783319019963
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 121890.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: This book offers a comprehensive treatment of Flip-Flop design, including nanometer effects and the consequent design tradeoffs for current and future VLSI systems. It examines more than 20 topologies, covering all relevant classes of circuits.

Автор: Bernhard Goll; Horst Zimmermann
Название: Comparators in Nanometer CMOS Technology
ISBN: 366244481X ISBN-13(EAN): 9783662444818
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 121890.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: This book covers the complete spectrum of the fundamentals of clocked, regenerative comparators, their state-of-the-art, advanced CMOS technologies, innovative comparators inclusive circuit aspects, their characterization and properties.

Автор: Uhrmann, Heimo Kolm, Robert Zimmermann, Horst
Название: Analog filters in nanometer cmos
ISBN: 3642380123 ISBN-13(EAN): 9783642380129
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 111790.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: This book presents recent results in the development of analog filters in nanometer CMOS. It describes methods for successfully dealing with nanometer devices and includes numerous detailed circuit diagrams and plots of measured results.