Scanning Tunneling Spectroscopy of Magnetic Bulk Impurities, Henning Pr?ser

Автор: Bernard Pajot
Название: Optical Absorption of Impurities and Defects in Semiconducting Crystals
ISBN: 3642263569 ISBN-13(EAN): 9783642263569
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 174130.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: Semiconducting and Insulating Crystals details how absorption spectroscopy provides information on the nature, concentration, charge state and configuration of impurities in crystals, and also on their kinetics and transformations under annealing.

Автор: Klaus Graff
Название: Metal Impurities in Silicon-Device Fabrication
ISBN: 3642629652 ISBN-13(EAN): 9783642629655
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 87070.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: This up-to-date monograph provides a thorough review of the relevant data and properties of the transition-metal impurities generated during silicon-sample and device fabrication. This new edition includes important recent data and many new tables.

Автор: Olof Holtz; Qing Xiang Zhao
Название: Impurities Confined in Quantum Structures
ISBN: 3642622283 ISBN-13(EAN): 9783642622281
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 93160.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: The dramatic impact of low dimensional semiconductor structures on c- rent and future device applications cannot be overstated. The modi?ed electronic structure of semiconductor quantum structures results in transport and optical properties, which di?er from those of constituent bulk materials.

Автор: Samuel H. Cohen; Marcia L. Lightbody
Название: Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3
ISBN: 1475781849 ISBN-13(EAN): 9781475781847
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 130610.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: The Foundation for Advances in Medicine and Science (FAMS), the organizers of SCANNING 98, sponsored its third annual Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy Symposium at the Omni Inner Harbor Hotelin Baltimore, Maryland, from May 9 to 12, 1998.

Автор: Goldstein
Название: Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis
ISBN: 0306472929 ISBN-13(EAN): 9780306472923
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 93160.00 T
Наличие на складе: Невозможна поставка.
Описание: This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis.

Название: Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3
ISBN: 0306462974 ISBN-13(EAN): 9780306462979
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 156720.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: Contains the proceedings of the third Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy symposium, which was held to provide an interface between scientists, engineers, representatives of industry, government, and academia, all of whom have a common interest in probe microscopies.

Автор: Samuel H. Cohen; Marcia L. Lightbody
Название: Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
ISBN: 1475793278 ISBN-13(EAN): 9781475793277
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 130610.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994

Автор: M.T. Bray; Samuel H. Cohen; Marcia L. Lightbody
Название: Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy
ISBN: 1475793243 ISBN-13(EAN): 9781475793246
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 174150.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: In the first session, Biological Nanostructure, topics ranged from AFM ofDNA to STM imagmg ofthe biomoleeule tubulin and bacterialluciferase to the AFM of starch polymer double helices to AFM imaging of food surfaces.