Yoshio Waseda Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization 9783662146378

Варианты приобретения

Цена: 214280.00T
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ. Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: 237 шт.
При оформлении заказа до: 2025-07-28
Ориентировочная дата поставки: Август-начало Сентября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину

в Мои желания

Автор: Yoshio Waseda
Название: Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization
ISBN: 9783662146378
Издательство: Springer
Классификация:

Медицина: общие вопросы

Астрономия

Атомная и молекулярная физика

Кристаллография

Материаловедение

Испытания материалов

ISBN-10: 3662146371
Обложка/Формат: Soft cover
Страницы: 214
Вес: 0.36 кг.
Дата издания: 03.10.2013
Серия: Springer Tracts in Modern Physics
Язык: English
Издание: Softcover reprint of
Иллюстрации: Xiv, 214 p.
Размер: 234 x 156 x 12
Читательская аудитория: Professional & vocational
Основная тема: Surfaces and Interfaces, Thin Films
Подзаголовок: Atomic-Scale Structure Determination
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: The second generation amorphous alloys, called bulk amorphous alloys, have been discovered in some Pd based and Zr based alloy systems, with a super cooled liquid region at more than 120 K.

Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization, Yoshio Waseda