Scanning Electron Microscopy 9781632384065

Варианты приобретения

Цена: 153270.00T
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ. Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: 209 шт.
При оформлении заказа до: 2025-07-23
Ориентировочная дата поставки: конец Сентября - начало Октября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину

в Мои желания

Автор: Page Lisa
Название: Scanning Electron Microscopy
ISBN: 9781632384065
Издательство: NY Research Press
Классификация:

Научное оборудование, научные эксперименты и методы

Микроскопические исследования

ISBN-10: 163238406X
Обложка/Формат: Hardcover
Страницы: 292
Вес: 0.56 кг.
Дата издания: 17.03.2015
Язык: English
Размер: 162 x 236 x 23
Поставляется из: США
Описание: Fine focused electron and ion beams constitute(s) an inevitable part of methods and instruments employed in various science fields. SEMs are well instrumented and supplemented with advanced techniques and methods and thereby present endless possibilities in the areas of quantitative measurement of object topologies, surface imaging, performing elemental analysis and local electrophysical characteristics of semiconductor structures. Creation of micro and nanostructures involves extensive use of fine focused e-beam. This book focuses on various issues concerned with scanning electron microscopy, covering both theoretical and practical aspects. Numerous topics are organized under two sections, Material Science and Nanostructured Materials for Electronic Industry. This book includes contributions by renowned researchers and experts in this field.

Scanning Electron Microscopy, Page Lisa