Контакты/Проезд Доставка и Оплата Помощь/Возврат

Корзина ()

Мои желания ()

Промокоды

Ваши заказы

3D Integration In Vlsi Circuits, Katsuyuki Sakuma (Editor)

Katsuyuki Sakuma (Editor) 3D Integration In Vlsi Circuits 9781138710399

Варианты приобретения

Цена: 163330.00T
Кол-во:
о цене
Наличие: Отсутствует.
Возможна поставка под заказ. Дата поступления на склад уточняется после оформления заказа

Добавить в корзину

в Мои желания

Автор: Katsuyuki Sakuma (Editor)
Название: 3D Integration In Vlsi Circuits
Перевод названия: 3D Интеграция в схемах Vlsi
ISBN: 9781138710399
Издательство: Taylor&Francis
Классификация:

Схемы и компоненты

ISBN-10: 1138710393
Обложка/Формат: Hardback
Страницы: 233
Вес: 0.57 кг.
Дата издания: 25.04.2018
Серия: Devices, circuits, and systems
Язык: English
Иллюстрации: 15 tables, black and white; 15 line drawings, color; 100 line drawings, black and white; 10 halftones, color; 48 halftones, black and white
Размер: 164 x 242 x 18
Читательская аудитория: Tertiary education (us: college)
Ключевые слова: Circuits & components, TECHNOLOGY & ENGINEERING / Electronics / General,TECHNOLOGY & ENGINEERING / Electronics / Circuits
Основная тема: Circuits & Devices
Подзаголовок: Implementation technologies and applications
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Европейский союз
Описание: The goal of this book is to provide an understanding of the latest challenges and issues in 3D integration. The term 3D integration includes a variety of integration methods, such as 2.5-dimensional (2.5D) interposer-based integration, 3D integrated circuits (3D ICs), 3D systems-in-package (SiP), 3D heterogeneous integration, and monolithic 3D ICs.

Very Large Scale Integration (VLSI)

Автор: D.F. Barbe
Название: Very Large Scale Integration (VLSI)
ISBN: 3642886426 ISBN-13(EAN): 9783642886423
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 93160.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: With contributions by numerous experts

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Автор: Manoj Sachdev; Jose Pineda de Gyvez
Название: Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
ISBN: 1441942858 ISBN-13(EAN): 9781441942852
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 174130.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: The 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering have been added to provide a link between defect sources and yield.

Microfluidic Very Large Scale Integration (VLSI)

Автор: Paul Pop; Wajid Hassan Minhass; Jan Madsen
Название: Microfluidic Very Large Scale Integration (VLSI)
ISBN: 3319295977 ISBN-13(EAN): 9783319295978
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 107130.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: Coverage includes a topology graph-based model for the biochip architecture, and a sequencing graph to model for biochemical application, showing how the application model can be obtained from the protocol language.

Analog VLSI Integration of Massive Parallel Signal Processing Systems

Автор: Peter Kinget; Michiel Steyaert
Название: Analog VLSI Integration of Massive Parallel Signal Processing Systems
ISBN: 0792398238 ISBN-13(EAN): 9780792398233
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 213360.00 T
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: This text describes in depth the theory and practice of designing massively parallel analog signal processing systems. Techniques are described which overcome the device and transistor mismatches which limit performance of the system.


Казахстан, 010000 г. Астана, проспект Туран 43/5, НП2 (офис 2) ТОО "Логобук" Тел:+7 707 857-29-98 ,+7(7172) 65-23-70 www.logobook.kz

Kaspi QR

Заказ по телефону/email
Помощь
Возврат товара

Есть вопрос?
Российский офис

О компании
Политика конфиденциальности

В Контакте

В Контакте Мед Мобильная версия