Автор: Fei Yuan Название: CMOS Current-Mode Circuits for Data Communications ISBN: 1441939997 ISBN-13(EAN): 9781441939999 Издательство: Springer Рейтинг: Цена: 121890.00 T Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ. Описание: This book provides an in-depth treatment of the design principles of CMOS current-mode circuits and their applications in data communications. It will appeal to IC design engineers, hardware system engineers and others.
Автор: Manoj Sachdev; Jose Pineda de Gyvez Название: Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits ISBN: 1441942858 ISBN-13(EAN): 9781441942852 Издательство: Springer Рейтинг: Цена: 174130.00 T Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ. Описание: The 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering have been added to provide a link between defect sources and yield.
Казахстан, 010000 г. Астана, проспект Туран 43/5, НП2 (офис 2) ТОО "Логобук" Тел:+7 707 857-29-98 ,+7(7172) 65-23-70 www.logobook.kz