Автор: Demkov Название: CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications ISBN: 1605111287 ISBN-13(EAN): 9781605111285 Издательство: Cambridge Academ Рейтинг: Цена: 99270.00 T Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ. Описание: The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
Казахстан, 010000 г. Астана, проспект Туран 43/5, НП2 (офис 2) ТОО "Логобук" Тел:+7 707 857-29-98 ,+7(7172) 65-23-70 www.logobook.kz