Charged Semiconductor Defects, Edmund G. Seebauer; Meredith C. Kratzer
Автор: Edmund G. Seebauer; Meredith C. Kratzer Название: Charged Semiconductor Defects ISBN: 1849968209 ISBN-13(EAN): 9781849968201 Издательство: Springer Рейтинг: Цена: 174130.00 T Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ. Описание: "Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.
Казахстан, 010000 г. Астана, проспект Туран 43/5, НП2 (офис 2) ТОО "Логобук" Тел:+7 707 857-29-98 ,+7(7172) 65-23-70 www.logobook.kz